Konu Değerlendirmesi:
  • 0 Oy(lar) - 0 Ortalama
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
Beyaz ışık mikroskobu hakkında
#1
Question 
Beyaz ışık mikroskobu (interferometri) ile yüzey ölçümü üzerine bir süredir araştırma yapıyorum ve özellikle farklı objektif büyütmelerinin (20x, 40x gibi) ölçüm sonuçlarına etkisini anlamaya çalışıyorum. Bildiğim kadarıyla bu yöntem nanometre mertebesinde hassas ölçümler yapabiliyor, ancak objektif büyütmesi arttıkça elde edilen verinin doğruluğu veya güvenilirliği değişir mi, bu konuda kafamda bazı soru işaretleri var.

Örneğin 20x objektif ile daha geniş bir alanı tararken, 40x objektifte daha dar ama daha detaylı bir yüzey profili elde ediliyor. Bu durumda ölçülen pürüzlülük değerlerinin (Ra, Sa gibi) birbirinden farklı çıkması normal midir? Yani burada “doğruluk” mu değişiyor, yoksa aslında ölçtüğümüz yüzeyin ölçeği mi farklılaşıyor?

Bir diğer konu da OEM müşteri parçası için hangi pürüzlülük parametresinin daha anlamlı olduğu. Parça bir fren diski olduğu için, yüzeyin fonksiyonel performansı oldukça kritik. Bu noktada Ra (çizgisel ortalama pürüzlülük) mı yoksa Sa (alan bazlı ortalama pürüzlülük) mı daha doğru bir seçim olur diye düşünüyorum. Özellikle montaj ve temas yüzeyi söz konusu olduğu için 3D parametrelerin (Sa gibi) daha temsil edici olabileceğini tahmin ediyorum ama emin değilim.

Bu konuda tecrübesi olan ya da benzer ölçümler yapmış olan varsa, özellikle:

* Farklı büyütmelerde veri karşılaştırması nasıl yapılmalı?
* Hangi durumda Ra yerine Sa tercih edilmeli?
* Fren diski gibi fonksiyonel yüzeylerde nelere dikkat edilmeli?

gibi konularda görüşlerinizi paylaşırsanız çok faydalı olur. Ben de öğrenme aşamasında olduğum için biraz amatörce yaklaşıyor olabilirim ?
Bul
Yanıtla


Hızlı Erişim:


Bu Konuya Göz Atan Kullanıcılar: 1 Ziyaretçi(ler)